图书介绍
X射线多晶衍射数据RIETVELD精修及GSAS软件入门【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

- 郑振环,李强编 著
- 出版社: 北京:中国建材工业出版社
- ISBN:7516014561
- 出版时间:2016
- 标注页数:113页
- 文件大小:19MB
- 文件页数:122页
- 主题词:
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图书目录
第1章 Rietveld法结构精修1
1.1 Rietveld法结构精修发展概况1
1.2 Rietveld法基本原理2
1.3 参数修正顺序与结果判据5
1.3.1 参数修正的顺序5
1.3.2 精修的数值判据6
1.3.3 精修的图示判断6
1.4 精修过程出现的问题和对策8
1.5 Rietveld法结构精修的应用9
1.5.1 修正晶体结构9
1.5.2 相变研究和点阵常数测定9
1.5.3 物相定量分析10
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定10
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍12
2.1 GSAS软件简介12
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装13
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍13
2.3.1 菜单栏13
2.3.2 选项卡界面22
2.3.3 EXPGUI帮助内容42
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步44
3.1 精修前的准备工作44
3.1.1 衍射数据的测定44
3.1.2 衍射数据的转换47
3.1.3 初始结构的获取49
3.2 EXPGUI精修简单示例49
3.2.1 生成EXP文件50
3.2.2 精修过程52
3.2.3 常见问题68
3.3 精修结果提取与绘图70
3.3.1 精修结果提取70
3.3.2 精修图谱绘图73
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习77
4.1 仪器参数文件的建立77
4.1.1 基本知识77
4.1.2 操作过程78
4.2 物相(含非晶)定量分析88
4.2.1 基本原理88
4.2.2 衍射数据测试88
4.2.3 精修过程89
4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用98
4.3.1 问题描述98
4.3.2 精修过程99
参考文献112
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